WikiDer > Апертурная маскирующая интерферометрия
 | Эта статья имеет нечеткий стиль цитирования. (Июнь 2015 г.) (Узнайте, как и когда удалить этот шаблон сообщения) |
Апертурная маскирующая интерферометрия это форма спекл-интерферометрия, это позволяет ограниченная дифракция съемка с наземных телескопы, и является запланированным режимом высококонтрастного изображения на Космический телескоп Джеймса Уэбба. Этот метод позволяет наземным телескопам достигать максимально возможного разрешения, позволяя наземным телескопам большого диаметра обеспечивать гораздо большее разрешение, чем у наземных телескопов. Космический телескоп Хаббла. Принципиальное ограничение метода состоит в том, что он применим только к относительно ярким астрономическим объектам. На телескоп помещается маска, пропускающая свет только через небольшое количество отверстий. Этот массив отверстий действует как миниатюрный астрономический интерферометр. Метод был разработан Джон Э. Болдуин и сотрудники в Кавендишская астрофизическая группа.
Описание
В технике маскировки апертуры биспектральный анализ Метод (маскирование спеклов) обычно применяется к данным изображения, снятым через замаскированные апертуры, где большая часть апертуры заблокирована, и свет может проходить только через серию небольших отверстий (субапертур). Апертурная маска удаляет атмосферный шум из этих измерений за счет использования количество закрытия, позволяя измерять биспектр быстрее, чем при немаскированной апертуре.
Для простоты апертурные маски обычно помещаются либо перед вторичное зеркало (например, Tuthill et al. (2000)) или помещены в повторно отображенную плоскость апертуры, как показано на рисунке 1.a) (например, Haniff et al. (1987); Young et al. (2000); Baldwin et al. ( 1986)). Маски обычно делятся на неизбыточные или частично избыточные. Неизбыточные маски состоят из массивов небольших отверстий, в которых нет двух пар отверстий с одинаковым вектором разделения (одинаковым исходный уровень - видеть синтез апертуры).
Каждая пара отверстий обеспечивает набор полос с уникальной пространственной частотой в плоскости изображения. Частично избыточные маски обычно предназначены для обеспечения компромисса между минимизацией избыточности интервалов и максимальным увеличением пропускной способности и диапазона исследуемых пространственных частот (Haniff & Buscher, 1992; Haniff et al., 1989). На рисунках 1.b) и 1.c) показаны примеры апертурных масок, использованных Питером Тутхиллом и его сотрудниками перед вторичной обмоткой телескопа Кек; Рисунок 1.b) - это маска без резервирования, а на рисунке 1.c) - частично.
Хотя отношение сигнал-шум маскировка пятен наблюдения при высоком уровне освещенности могут быть улучшены с помощью апертурных масок, самая слабая предельная величина не может быть значительно улучшена для детекторов с ограничением фотонного шума (см. Buscher & Haniff (1993)).
Смотрите также
Рекомендации
- Докторская диссертация Питера Тутхилла по маскированию апертуры (PostScript) (PDF)
- Болдуин и др. (1986)
- Бушер и Ханифф (1993)
- Haniff et al. (1987)
- Ханифф и др., 1989 г.
- Buscher et al. 1990 г.
- Ханифф и Бушер, 1992
- Tuthill et al. (2000)
- Young et al. (2000)
дальнейшее чтение
- Получение изображений высокого разрешения с помощью маски без избыточной апертуры NIRISS[постоянная мертвая ссылка]