WikiDer > Анализ ионных пучков

Ion beam analysis

Анализ ионных пучков («IBA») - важное семейство современных аналитические методы с использованием МэВ ионные пучки для исследования состава и получения профилей элементарной глубины в приповерхностном слое твердых тел. Все методы IBA обладают высокой чувствительностью и позволяют обнаруживать элементы в субмонослойном диапазоне. Разрешение по глубине обычно находится в диапазоне от нескольких нанометров до нескольких десятков нанометров. Разрешение по атомной глубине может быть достигнуто, но для этого требуется специальное оборудование. Анализируемая глубина колеблется от нескольких десятков нанометров до нескольких десятков микрометров. Методы IBA всегда количественные с точностью до нескольких процентов. Каналирование позволяет определить глубину повреждения монокристаллов.

RBS: Резерфордовское обратное рассеяние чувствителен к тяжелым элементам в легкой матрице
EBS: Спектрометрия упругого (нерезерфордовского) обратного рассеяния может быть чувствительным даже к легким элементам в тяжелой матрице. Период, термин EBS используется, когда падающая частица движется настолько быстро, что превышает "Кулоновский барьер"ядра-мишени, которое, следовательно, не может быть обработано Резерфорда приближение точечный заряд. В таком случае Уравнение Шредингера необходимо решить, чтобы получить сечение рассеяния (см. http://www-nds.iaea.org/sigmacalc/).
ERD: Обнаружение упругой отдачи чувствителен к легким элементам в тяжелой матрице
ПИКС: Рентгеновское излучение, индуцированное частицами дает следовой и второстепенный элементный состав
NRA: Анализ ядерных реакций чувствителен к определенным изотопам
Направление: пучок быстрых ионов может быть точно выровнен по основным осям одиночного кристаллы; тогда цепочки атомов «затеняют» друг друга и мощность обратного рассеяния резко падает. Любые атомы от их решетка сайты дадут видимый лишний разброс. Таким образом, повреждения кристалла видны, а точечные дефекты (межстраничные объявления) можно даже отличить от вывихи.

Количественная оценка методов IBA требует использования специализированного программного обеспечения для моделирования и анализа данных. SIMNRA и DataFurnace - популярные программы для анализа RBS, ERD и NRA, а GUPIX популярна для PIXE. Обзор программного обеспечения IBA^[1] за этим последовало взаимное сравнение нескольких кодов, посвященных RBS, ERD и NRA, организованное Международное агентство по атомной энергии.^[2]

IBA - это область активных исследований. Последняя крупная конференция по ядерным микропучкам в г. Дебрецен (Венгрия) опубликовано в НИМБ 267 (12-13).

Обзор

Ионно-лучевой анализ основан на том, что ионно-атомные взаимодействия возникают при введении ионов в тестируемый образец. Основные взаимодействия приводят к выбросу продуктов, которые позволяют собирать информацию о количестве, типе, распределении и структурном расположении атомов. Чтобы использовать эти взаимодействия для определения состава образца, необходимо выбрать метод вместе с условиями облучения и системой обнаружения, которая будет лучше всего изолировать интересующее излучение, обеспечивая желаемую чувствительность и пределы обнаружения. Базовая схема устройства ионного пучка представляет собой ускоритель, который производит пучок ионов, который подается через откачанную трубку для транспортировки пучка к устройству обработки пучка. Это устройство изолирует частицы и заряд, представляющие интерес, которые затем транспортируются через откачанную трубку для транспортировки пучка в целевую камеру. В этой камере уточненный ионный пучок войдет в контакт с образцом и, таким образом, можно будет наблюдать результирующие взаимодействия. Конфигурация ионно-лучевого устройства может быть изменена и усложнена за счет включения дополнительных компонентов. Методы ионно-лучевого анализа предназначены для конкретных целей. Некоторые методы и источники ионов показаны в таблице 1. Типы детекторов и устройства для ионно-лучевых методов показаны в таблице 2.

Таблица 1: Методы и источники ионов^[3]
	Источник ионов	Текущий	Ионные пучки	Техника
Мало энергии	Радиочастота	1 мА	H, He, N, O	LEIS
	Дуоплазматрон	10 мА	H, He, N, O
	Колютрон
	Пеннинг	5 мА	C, N, Ne, Kr
	Напыление CaeDsium		Самый твердый	SIMS
	Freeman	10 мА	Самый твердый
	Электронный удар
	LMIS		Ga, In, Au, Bi
Высокая энергия	Положительные ионы
	Радиочастота	1 мА	H, He, N, O	RBS, PIXE, NRA
	Дуопламатрон	10 мА	H, He, N, O	RBS, PIXE, NRA
	Отрицательные ионы
	Дуоплазматрон (внеосевое извлечение)	100 мА	H, O	RBS, PIXE, NRA
	Пеннинг	2 мА	ЧАС, ²ЧАС
	Источник распыления		Наиболее
	РФ с обменом заряда	100 мА	H, He, N, O

Таблица 2: Типы и устройства детекторов для ионно-лучевой техники^[3]
	Товар	Детектор	Конфигурация	Вакуум
LEIS	Рассеянные ионы	Ченнелтрон	Вакуумный, подвижный, выгодный Для измерения энергии требуется Электростатический / магнитный анализатор	10 нПа
SIMS	Вторичные ионы	Ченнелтрон	Вакуум, фиксированная геометрия Низкое массовое разрешение с ESA, QMA Высокое массовое разрешение с секторным анализатором поля	<1 МПа
SIPS	Оптические фотоны	Спектрофотометр	Наружно по отношению к камере, фиксированная геометрия, высокое разрешение по длине волны.	<1 МПа
ПИКС	Рентгеновские лучи	Си (Ли) IG	Вакуумный или внешний. Тонкое окно фильтров. Охлаждение жидким азотом	<1 МПа
RBS	Ионы	Surf.barrier	Вакуум, подвижная геометрия Небольшая и простая компоновка
RBS-C	Ионы	Surf.barrier		<100 мПа
ЭРА	Ионы	Surf.barrier	Геометрия угла обзора для улучшенного разрешения глубины
NRA	Ионы	Surf.barrier
PIGME	Гамма излучение	Ге (Ли) NaI	Внешний с окном, криостат Высокое разрешение, низкая эффективность Плохое разрешение, высокая эффективность	<100 мПа
NRA	Нейтронов	BF₃ Li стекло Сцинтиллятор	Внешний, низкий КПД Только обнаружение Широкое разрешение за счет разворачивания

Приложения

Ионно-лучевой анализ нашел применение во многих различных приложениях, от биомедицинских применений до изучения древних артефактов. Популярность этого метода связана с конфиденциальными данными, которые могут быть собраны без значительного искажения системы, в которой он изучается. Беспрецедентный успех, достигнутый в использовании ионно-лучевого анализа, был практически неоспорим за последние тридцать лет до самого недавнего времени благодаря новым развивающимся технологиям. Даже тогда использование ионно-лучевого анализа не исчезло, и обнаруживается все больше приложений, которые используют преимущества его превосходных возможностей обнаружения. В эпоху, когда старые технологии могут мгновенно устареть, анализ ионных пучков остается опорой и, похоже, только растет, поскольку исследователи находят все большее применение этой технике.

Биомедицинский элементный анализ

Наночастицы золота недавно использовались в качестве основы для подсчета атомных видов, особенно при изучении содержания раковых клеток.^[4] Анализ ионных пучков - отличный способ подсчитать количество атомных частиц на ячейку. Ученые нашли эффективный способ сделать точные количественные данные доступными с помощью ионно-лучевого анализа в сочетании со спектрометрией упругого обратного рассеяния (EBS).^[4] Исследователи исследования золотых наночастиц смогли добиться гораздо большего успеха с использованием ионно-лучевого анализа по сравнению с другими аналитическими методами, такими как PIXE или XRF.^[4] Этот успех связан с тем, что сигнал EBS может напрямую измерять информацию о глубине с помощью анализа ионного пучка, тогда как это невозможно сделать с помощью двух других методов. Уникальные свойства ионно-лучевого анализа находят широкое применение в новой линии терапии рака.

Исследования культурного наследия

Ионно-лучевой анализ также имеет уникальное применение при изучении археологических артефактов, также известном как археометрия.^[5] В течение последних трех десятилетий это был наиболее предпочтительный метод изучения артефактов с сохранением их содержимого. Что многие сочли полезным в использовании этой техники, так это ее отличные аналитические характеристики и неинвазивный характер. В частности, этот метод предлагает беспрецедентные характеристики с точки зрения чувствительности и точности. Однако в последнее время появились конкурирующие источники для целей археометрии, использующие методы на основе рентгеновских лучей, такие как XRF. Тем не менее, наиболее предпочтительным и точным источником является анализ ионного пучка, который до сих пор не имеет себе равных в его анализе легких элементов и химических 3D-изображений (например, произведений искусства и археологических артефактов).^[5]^[6]

Криминалистический анализ

Третье применение ионно-лучевого анализа - это судебно-медицинские исследования, в частности, определение характеристик остатков огнестрельного оружия. Текущие характеристики сделаны на основе тяжелых металлов, содержащихся в пулях, однако производственные изменения постепенно делают эти анализы устаревшими. Считается, что внедрение таких методов, как ионно-лучевой анализ, решит эту проблему. В настоящее время исследователи изучают возможность использования ионно-лучевого анализа в сочетании со сканирующим электронным микроскопом и энергодисперсионным рентгеновским спектрометром (SEM-EDS).^[7] Есть надежда, что эта установка обнаружит состав новых и старых химикатов, которые старые анализы не могли эффективно обнаружить в прошлом.^[7] Большой объем используемого аналитического сигнала и более чувствительное освещение, обнаруженное при ионно-лучевом анализе, дает большие надежды в области судебной медицины.

Итеративный IBA

Аналитические методы на основе ионных пучков представляют собой мощный набор инструментов для неразрушающего, не требующего стандартов, высокоточного анализа элементного состава с разрешением по глубине в режиме глубины от нескольких нм до нескольких мкм.^[8] Дополнительная информация может быть извлечена путем изменения типа падающего иона, геометрии эксперимента, энергии частицы или получения различных продуктов, возникающих в результате взаимодействия иона с твердым телом. Однако при анализе часто возникают проблемы либо с точки зрения разрешения по массе, когда в пробе присутствует несколько сравнительно тяжелых элементов, либо с точки зрения чувствительности, когда легкие частицы присутствуют в тяжелых матрицах. Следовательно, обычно только комбинация нескольких методов на основе ионных пучков преодолевает ограничения каждого отдельного метода и предоставляет дополнительную информацию об образце.^[3]^[4]

Обзор различных взаимодействий ионов с поверхностью. (1) -входящий ион; (2) -рассеяние; (3) -нейтрализация и рассеяние; (4) -насыпание или отдача; (5) -электронная эмиссия; (6) -фотонное излучение; (7) -адсорбция; (8) -движение, например от случая распыления

Сочетание нескольких методик IBA (RBS, EBS, ПИКС, ERD) в итеративном и самосогласованном анализе доказывают, что повышают точность информации, которая может быть получена из каждого независимого измерения.^[9]^[10]

Программное обеспечение и моделирование

Начиная с 1960-х годов данные, собранные с помощью анализа ионных пучков, были проанализированы с помощью множества программ компьютерного моделирования. Исследователи, которые часто используют анализ ионного пучка в своей работе, требуют, чтобы это программное обеспечение было точным и подходящим для описания аналитического процесса, который они наблюдают.^[11] Приложения этих программ варьируются от анализа данных до теоретического моделирования и моделирования, основанного на предположениях об атомных данных, математических и физических свойствах, которые детализируют рассматриваемый процесс. Поскольку цель и реализация ионно-лучевого анализа менялись с годами, изменились и программное обеспечение и коды, используемые для его моделирования. Такие изменения подробно описаны в пяти классах, по которым классифицируется обновленное программное обеспечение.^[12]^[13]

Класс-А

Включает все программы, разработанные в конце 1960-х - начале 1970-х годов. Этот класс программного обеспечения решал определенные проблемы с данными; niy не предоставил полного потенциала для анализа спектра полного общего случая. Известной новаторской программой была программа IBA, разработанная Зиглером и Баглином в 1971 году. В то время вычислительные модели касались только анализа, связанного с методами обратного рассеяния при анализе ионных пучков, и выполняли вычисления на основе анализа пластин. За это время возникло множество других программ, таких как RBSFIT, хотя из-за отсутствия глубоких знаний об анализе ионных пучков становилось все труднее разрабатывать программы с такой точностью.

Класс-B

Новая волна программ стремилась решить эту проблему точности в следующем классе программного обеспечения. Такие программы, как SQEAKIE и BEAM EXPERT, разработанные в 1980-х годах, давали возможность решить полный общий случай, используя коды для выполнения прямого анализа. Этот прямой подход разворачивает полученный спектр без каких-либо предположений относительно образца. Вместо этого он вычисляет через отдельные спектральные сигналы и решает набор линейных уравнений для каждого слоя. Тем не менее, проблемы все еще возникают, и вносятся корректировки, чтобы уменьшить шум в измерениях и место для неопределенности.

Класс-C

Возвращаясь к исходной точке, этот третий класс программ, созданный в 1990-х годах, берут некоторые принципы из класса A в объяснении общего случая, однако теперь с использованием косвенных методов. Например, RUMP и SENRAS используют предполагаемую модель образца и моделируют сравнительные теоретические спектры, которые обеспечивают такие свойства, как сохранение тонкой структуры и расчеты неопределенности. В дополнение к усовершенствованию программных средств анализа появилась возможность анализировать другие методы, помимо обратного рассеяния; то есть ERDA и NRA.

Класс-D

После выхода из эры класса C и в начале 2000-х программное обеспечение и программы моделирования для анализа ионных пучков решали различные методы сбора данных и проблемы анализа данных. Вслед за мировыми технологическими достижениями были внесены корректировки для улучшения программ до состояния более общих кодов, оценки спектра и структурного определения. Такие программы, как SIMNRA, теперь учитывают более сложные взаимодействия с лучом и образцом; также предоставляет известную базу данных о рассеянии.

Класс-E

Этот последний разработанный класс, имеющий характеристики, аналогичные предыдущему, использует основные принципы вычислительных методов Монте-Карло.^[14] Этот класс применяет молекулярно-динамические расчеты, которые позволяют анализировать физические взаимодействия как с низкой, так и с высокой энергией, имеющие место при анализе ионного пучка. Ключевой и популярной функцией, которая сопровождает такие методы, является возможность объединения вычислений в реальном времени с самим экспериментом по анализу ионного пучка.

Сноски

^ Раухала и другие. (2006)
^ Баррадас и другие. (2007)
^ ^а ^б ^c WILLIAMS, J. S .; ПТИЦА, Дж. Р. (1989-01-01). 1 - Концепции и принципы ионно-лучевого анализа. Сан-Диего: Academic Press. С. 3–102. Дои:10.1016 / b978-0-08-091689-7.50006-9. ISBN 9780120997404.
^ ^а ^б ^c ^d Джейнес, Дж. Чарльз (26 сентября 2013 г.). "Измерение и моделирование изменений поглощения наночастиц золота от клетки к клетке". Аналитик. 138 (23): 7070–4. Bibcode:2013Ана ... 138.7070J. Дои:10.1039 / c3an01406a. PMID 24102065.
^ ^а ^б Дран, Жан-Клод (24 ноября 2013 г.). «Ионно-лучевой анализ в исследованиях культурного наследия: вехи и перспективы». Междисциплинарные приложения ядерной физики с ионными пучками. Материалы конференции AIP. 1530 (1): 11–24. Bibcode:2013AIPC.1530 ... 11D. Дои:10.1063/1.4812900.
^ «Приложения ионно-лучевого анализа». www.surrey.ac.uk. Получено 2016-04-29.
^ ^а ^б Ромоло, Ф. (2 мая 2013 г.). «Комплексный ионно-лучевой анализ (IBA) для определения характеристик остатков огнестрельного оружия (GSR)». Международная криминалистическая экспертиза. 231 (1–3): 219–228. Дои:10.1016 / j.forsciint.2013.05.006. PMID 23890641.
^ Справочник по анализу современных ионно-лучевых материалов. Ван, Юнцян., Настаси, Майкл Энтони, 1950- (2-е изд.). Варрендейл, Пенсильвания: Общество исследования материалов. 2009 г. ISBN 978-1-60511-217-6. OCLC 672203193.CS1 maint: другие (ссылка на сайт)
^ Moro, M.V .; Holeák, R .; Zendejas Medina, L .; Jansson, U .; Приметжофер, Д. (сентябрь 2019). «Точное профилирование с высоким разрешением по глубине пленок сплавов переходных металлов, напыленных магнетронным методом, содержащих легкие частицы: подход с использованием нескольких методов». Тонкие твердые пленки. 686: 137416. arXiv:1812.10340. Bibcode:2019TSF ... 686m7416M. Дои:10.1016 / j.tsf.2019.137416. S2CID 119415711.
^ Jeynes, C .; Bailey, M.J .; Брайт, штат Нью-Джерси; Christopher, M.E .; Grime, G.W .; Jones, B.N .; Палицин, В.В .; Уэбб, Р.П. (январь 2012 г.). ""Итого МБА "- Где мы?" (PDF). Ядерные инструменты и методы в физических исследованиях Секция B: Взаимодействие пучка с материалами и атомами. 271: 107–118. Bibcode:2012NIMPB.271..107J. Дои:10.1016 / j.nimb.2011.09.020.
^ Баррадас, Н. (2007). "Взаимное сравнение программного обеспечения для анализа ионного пучка Международным агентством по атомной энергии". Ядерные инструменты и методы в физических исследованиях B. 262 (2): 281. Bibcode:2007НИМПБ.262..281Б. Дои:10.1016 / j.nimb.2007.05.018. HDL:11858 / 00-001M-0000-0027-0732-B.
^ Раухала, Э. (2006). «Состояние программного обеспечения для анализа и моделирования ионных пучков». Ядерные инструменты и методы в физических исследованиях B. 244 (2): 436. Bibcode:2006НИМПБ.244..436Р. Дои:10.1016 / j.nimb.2005.10.024. HDL:11858 / 00-001M-0000-0027-0B1E-C.
^ «Введение в моделирование фуллерена». www.surrey.ac.uk. Получено 2016-04-29.
^ Schiettekatte, F (2008). «Быстрый Монте-Карло для моделирования ионно-пучкового анализа». Ядерные инструменты и методы в физических исследованиях B. 266 (8): 1880. Bibcode:2008НИМПБ.266.1880С. Дои:10.1016 / j.nimb.2007.11.075.

внешняя ссылка

Международная конференция по ионно-лучевому анализу (раз в два года научная конференция, посвященная IBA): 2007, 2009, 2011, 2013, 2015, 2017).
Европейская конференция по ускорителям в прикладных исследованиях и технологиях ECAART (Европейская научная конференция, проводимая раз в три года): 2007, 2010, 2013, 2016.
Международная конференция по рентгеновскому излучению, индуцированному частицами (научная конференция Trienniel, посвященная PIXE): 2007, 2010, 2013, 2015.
«Ядерные инструменты и методы»: Международный рецензируемый научный журнал, в основном посвященный разработкам и приложениям IBA.
SIMNRA программа для моделирования и анализа спектров RBS, EBS, ERD, NRA и MEIS
MultiSIMNRA программа для моделирования и анализа (самосогласованная подгонка) нескольких спектров RBS, EBS, ERD и NRA с использованием SIMNRA
DataFurnace программа для моделирования и анализа (самосогласованная подгонка) множества спектров PIXE, RBS, EBS, ERD, NRA, PIGE, NRP, NDP
NDF бесплатная версия NDF (вычислительная машина, лежащая в основе DataFurnace) для моделирования спектров IBA
GUPIX программа для моделирования и анализа спектров PIXE
Программное обеспечение для анализа PIXE Взаимное сравнение программных пакетов для спектрометрии PIXE

[1] Раухала и другие. (2006)

[2] Баррадас и другие. (2007)

[:0-3] а ^б ^c WILLIAMS, J. S .; ПТИЦА, Дж. Р. (1989-01-01). 1 - Концепции и принципы ионно-лучевого анализа. Сан-Диего: Academic Press. С. 3–102. Дои:10.1016 / b978-0-08-091689-7.50006-9. ISBN 9780120997404.

[:1-4] а ^б ^c ^d Джейнес, Дж. Чарльз (26 сентября 2013 г.). "Измерение и моделирование изменений поглощения наночастиц золота от клетки к клетке". Аналитик. 138 (23): 7070–4. Bibcode:2013Ана ... 138.7070J. Дои:10.1039 / c3an01406a. PMID 24102065.

[:2-5] а ^б Дран, Жан-Клод (24 ноября 2013 г.). «Ионно-лучевой анализ в исследованиях культурного наследия: вехи и перспективы». Междисциплинарные приложения ядерной физики с ионными пучками. Материалы конференции AIP. 1530 (1): 11–24. Bibcode:2013AIPC.1530 ... 11D. Дои:10.1063/1.4812900.

[6] «Приложения ионно-лучевого анализа». www.surrey.ac.uk. Получено 2016-04-29.

[:3-7] а ^б Ромоло, Ф. (2 мая 2013 г.). «Комплексный ионно-лучевой анализ (IBA) для определения характеристик остатков огнестрельного оружия (GSR)». Международная криминалистическая экспертиза. 231 (1–3): 219–228. Дои:10.1016 / j.forsciint.2013.05.006. PMID 23890641.

[8] Справочник по анализу современных ионно-лучевых материалов. Ван, Юнцян., Настаси, Майкл Энтони, 1950- (2-е изд.). Варрендейл, Пенсильвания: Общество исследования материалов. 2009 г. ISBN 978-1-60511-217-6. OCLC 672203193.CS1 maint: другие (ссылка на сайт)

[9] Moro, M.V .; Holeák, R .; Zendejas Medina, L .; Jansson, U .; Приметжофер, Д. (сентябрь 2019). «Точное профилирование с высоким разрешением по глубине пленок сплавов переходных металлов, напыленных магнетронным методом, содержащих легкие частицы: подход с использованием нескольких методов». Тонкие твердые пленки. 686: 137416. arXiv:1812.10340. Bibcode:2019TSF ... 686m7416M. Дои:10.1016 / j.tsf.2019.137416. S2CID 119415711.

[10] Jeynes, C .; Bailey, M.J .; Брайт, штат Нью-Джерси; Christopher, M.E .; Grime, G.W .; Jones, B.N .; Палицин, В.В .; Уэбб, Р.П. (январь 2012 г.). ""Итого МБА "- Где мы?" (PDF). Ядерные инструменты и методы в физических исследованиях Секция B: Взаимодействие пучка с материалами и атомами. 271: 107–118. Bibcode:2012NIMPB.271..107J. Дои:10.1016 / j.nimb.2011.09.020.

[11] Баррадас, Н. (2007). "Взаимное сравнение программного обеспечения для анализа ионного пучка Международным агентством по атомной энергии". Ядерные инструменты и методы в физических исследованиях B. 262 (2): 281. Bibcode:2007НИМПБ.262..281Б. Дои:10.1016 / j.nimb.2007.05.018. HDL:11858 / 00-001M-0000-0027-0732-B.

[12] Раухала, Э. (2006). «Состояние программного обеспечения для анализа и моделирования ионных пучков». Ядерные инструменты и методы в физических исследованиях B. 244 (2): 436. Bibcode:2006НИМПБ.244..436Р. Дои:10.1016 / j.nimb.2005.10.024. HDL:11858 / 00-001M-0000-0027-0B1E-C.

[13] «Введение в моделирование фуллерена». www.surrey.ac.uk. Получено 2016-04-29.

[14] Schiettekatte, F (2008). «Быстрый Монте-Карло для моделирования ионно-пучкового анализа». Ядерные инструменты и методы в физических исследованиях B. 266 (8): 1880. Bibcode:2008НИМПБ.266.1880С. Дои:10.1016 / j.nimb.2007.11.075.

[1]

[2]

[3]

[4]

[5]

[6]

[7]

[8]

[9]

[10]

[11]

[12]

[13]

[14]

Navigation