WikiDer > Уравнение Зауэрбрея

В Уравнение Зауэрбрея был разработан немецким Гюнтер Зауэрбрей в 1959 г., работая над докторской диссертацией в Технический университет Берлина, Германия. Это метод корреляции изменений частоты колебаний пьезоэлектрический кристалл с нанесенной на него массой. Одновременно он разработал метод измерения характеристической частоты и ее изменений, используя кристалл в качестве компонента, определяющего частоту в цепи генератора. Его метод продолжает использоваться в качестве основного инструмента в кварцевые микровесы (QCM) экспериментов по преобразованию частоты в массу и применим почти во всех приложениях.

Уравнение выводится путем рассмотрения осажденной массы, как если бы она была продолжением толщины нижележащего кварца.^[1][2] Из-за этого корреляция массы и частоты (как определено уравнением Зауэрбрея) ​​в значительной степени не зависит от геометрии электрода. Это дает возможность определять массу без калибровки, что делает установку желательной с точки зрения затрат и времени.

Уравнение Зауэрбрея определяется как:

${displaystyle Delta f = - {frac {2f_ {0} ^ {2}} {A {sqrt {ho _ {q} mu _ {q}}}}} Delta m}$

куда:

${displaystyle f_ {0}}$ – Резонансная частота основной моды (Гц)

${displaystyle Delta f}$ - нормализованное изменение частоты (Гц)

${displaystyle Delta m}$ - Изменение массы (г)

${displaystyle A}$ – Пьезоэлектрически активная площадь кристалла (Площадь между электродами, см²)

${displaystyle ho _ {q}}$ – Плотность кварца (${displaystyle ho _ {q}}$ = 2,648 г / см³)

${displaystyle mu _ {q}}$ – Модуль сдвига кварца для кристалла АТ-огранки (${displaystyle mu _ {q}}$ = 2,947x10¹¹ г · см⁻¹· С⁻²)

Нормализованная частота ${displaystyle Delta f}$ представляет собой номинальный сдвиг частоты этого режима, деленный на его номер режима (по умолчанию большинство программ выводит нормализованный сдвиг частоты). Поскольку пленка рассматривается как увеличение толщины, уравнение Зауэрбрея применимо только к системам, в которых выполняются следующие три условия: нанесенная масса должна быть жесткой, нанесенная масса должна быть равномерно распределена и частота изменения ${displaystyle Delta f / f}$ < 0.05.^[3]

Если изменение частоты больше 5%, то есть ${displaystyle Delta f / f}$ > 0,05, для определения изменения массы необходимо использовать метод Z-соответствия.^[2]Формула для метода Z-соответствия:^[2]

${displaystyle {frac {Delta m} {A}} = {frac {N_ {q} ho _ {q}} {pi Zf_ {L}}} an ^ {- 1} left [Z an left (pi {frac { f_ {U} -f_ {L}} {f_ {U}}} ight) ight]}$

Уравнение 2 - метод Z-соответствия

${displaystyle f_ {L}}$ - Частота нагруженного кристалла (Гц)

${displaystyle f_ {U}}$ - Частота ненагруженного кристалла, т.е.резонансная частота (Гц)

${displaystyle N_ {q}}$ - Частотная постоянная для кварцевого кристалла АТ-среза (1,668x10¹³Гц · Å)

${displaystyle Delta m}$ - Изменение массы (г)

${displaystyle A}$ - Пьезоэлектрически активная площадь кристалла (Площадь между электродами, см²)

${displaystyle ho _ {q}}$ - Плотность кварца (${displaystyle ho _ {q}}$ = 2,648 г / см³)

${displaystyle Z}$ - Z-фактор пленочного материала ${displaystyle = {sqrt {left ({frac {ho _ {q} mu _ {q}} {ho _ {f} mu _ {f}}} ight)}}}$

${displaystyle ho _ {f}}$ - Плотность пленки (Варьируется: единицы измерения г / см³)

${displaystyle mu _ {q}}$ - Модуль сдвига кварца (${displaystyle mu _ {q}}$ = 2,947x10¹¹ г · см⁻¹· С⁻²)

${displaystyle mu _ {f}}$ - Модуль сдвига пленки (Варьируется: единицы измерения г · см⁻¹· С⁻²)

Ограничения

Уравнение Зауэрбрея было разработано для колебаний в воздухе и применимо только к твердым массам, прикрепленным к кристаллу. Было показано, что измерения микровесов кристалла кварца могут быть выполнены в жидкости, и в этом случае вязкость при этом будет наблюдаться соответствующее уменьшение резонансной частоты:

${displaystyle Delta f = {- f_ {0} ^ {3/2} (eta _ {l} ho _ {l} / pi ho _ {q} mu _ {q} n) ^ {1/2}}}$

куда ${displaystyle ho _ {l}}$ плотность жидкости, ${displaystyle eta _ {l}}$ - вязкость жидкости, а ${displaystyle n}$ это номер режима.^[4]

Рекомендации