WikiDer > Мониторинг выбранных ионов

Selected ion monitoring

Мониторинг выбранных ионов (SIM) это масс-спектрометрии режим сканирования, в котором только ограниченный отношение массы к заряду диапазон передается / обнаруживается прибором, в отличие от полного спектр классифицировать.[1][2] Этот режим работы обычно приводит к значительному повышению чувствительности. Из-за присущей им природы этот метод является наиболее эффективным - и, следовательно, наиболее распространенным - на квадрупольные масс-спектрометры и Масс-спектрометры с ионным циклотронным резонансом с преобразованием Фурье.

Смотрите также

Рекомендации

  1. ^ ИЮПАК, Сборник химической терминологии, 2-е изд. («Золотая книга») (1997). Исправленная онлайн-версия: (2006–) "выбранный ионный мониторинг". Дои:10.1351 / goldbook.S05547
  2. ^ Мюррей, Кермит К .; Бойд, Роберт К .; Eberlin, Marcos N .; Лэнгли, Дж. Джон; Ли, Лян; Найто, Ясухидэ (2013). «Определения терминов, относящихся к масс-спектрометрии (Рекомендации ИЮПАК 2013 г.)». Чистая и прикладная химия. 85 (7): 1515–1609. Дои:10.1351 / PAC-REC-06-04-06. ISSN 0033-4545.