WikiDer > Единица измерения источника

Source measure unit

В Единица измерения источника (SMU) - это тип испытательного оборудования, которое, как следует из названия, может одновременно производить поиск и измерение.

Обзор

Единица измерения источника (SMU), или единица измерения источника, как ее иногда называют, представляет собой электронный прибор, способный одновременно производить поиск и измерение. Он может точно форсировать напряжение или ток и одновременно измерять точное напряжение и / или ток.

Инструмент SMU может генерировать и потреблять энергию во всех четырех квадрантах.

SMU используются для тестовых приложений, требующих высокой точности, высокого разрешения и гибкости измерения. К таким приложениям относятся измерение и тестирование полупроводников и других нелинейных устройств и материалов, где напряжение источника и источник тока охватывают как положительные, так и отрицательные значения. Для этого SMU имеют четырехквадрантные выходы.[1] Для определения характеристик SMU представляют собой настольные приборы, похожие на измеритель кривой. Они также обычно используются в автоматическое испытательное оборудование и обычно оснащены таким интерфейсом, как GPIB или же USB для подключения к компьютеру.

История

Определение характеристик полупроводников привело к разработке блоков измерения источника. Анализатор параметров полупроводников HP4145A, представленный в 1982 году, был способен полностью определять характеристики полупроводниковых устройств и материалов по постоянному току.[2] Он состоял из четырех независимо управляемых блоков монитора источника (предшественника блоков измерения источника), заключенных в мэйнфрейм.

Keithley 236, представленный в 1989 году, был первым автономным SMU и позволял сборщикам систем интегрировать один или несколько SMU с отдельным управлением ПК. Со временем автономные SMU эволюционировали, чтобы предложить более широкий диапазон значений тока, напряжения, уровня мощности и цен для приложений, выходящих за рамки определения характеристик полупроводников. Меньшие форм-факторы, ставшие возможными благодаря использованию современных вычислительных технологий, позволили сборщикам систем интегрировать SMU в стоечные и стековые системы для крупномасштабных производственных тестовых приложений.[3]

Операция

SMU объединяет высокостабильный источник постоянного тока в качестве постоянного Источник тока или как постоянная источник напряжения, и мультиметр высокой точности.

Обычно это четыре терминала, два для источника и измерения и еще два для подключения к кельвину или дистанционному датчику. Питание одновременно подается (положительное) или опускается (отрицательное) на пару клемм, в то же время, когда выполняется измерение тока или напряжения на этих клеммах.[4]

SMU против источника питания

Наиболее важным отличием является то, что SMU работает в четырех квадрантах (источник и приемник) по сравнению с источником питания, который работает в двух квадрантах (только источник). Эта гибкость позволяет использовать SMU для таких приложений, как определение характеристик батарей, солнечных элементов или других устройств, генерирующих энергию. SMU также обеспечивают большую скорость и точность и обычно поддерживают более широкий рабочий диапазон.

SMU против DMM

Встроенные в SMU возможности поиска источников питания работают с измерительными возможностями прибора для уменьшения погрешности измерения и поддержки измерения низкого тока и более гибкого измерения сопротивления. При измерении напряжения утечку на уровне системы подавить легче, чем с помощью отдельных приборов. При измерении тока конструкция SMU снижает нагрузку по напряжению. Для измерения сопротивления SMU предоставляют программируемые значения источника, полезные для защиты тестируемого устройства.

Важные особенности

Примечательные особенности SMU включают следующее:

  • I- и V-развертка. Возможности развертки позволяют тестировать устройства в различных условиях с разными характеристиками источника, задержки и измерения. Они могут включать фиксированный уровень, линейную / логарифмическую и импульсную развертку.
  • Встроенный процессор - некоторые SMU дополнительно улучшают интеграцию приборов, связь и время тестирования за счет добавления встроенного процессора сценариев. Определяемое пользователем выполнение встроенного скрипта предлагает возможности для управления последовательностью / ходом тестирования, принятием решений и автономностью прибора.[5]
  • Проверка контактов - SMU могут проверять хорошее соединение с тестируемым устройством до начала теста. Некоторые из проблем, которые может обнаружить эта функция, включают усталость контактов, поломку, загрязнение, коррозию, ослабление или разрыв соединений и отказы реле.

Смотрите также

Рекомендации

  1. ^ Что такое блок измерения источника (SMU)?, Национальные инструменты, получено 11 июля, 2016
  2. ^ Журнал Hewlett-Packard, октябрь 1982 г., том 33, номер 10 (PDF), HPLabs, получено 22 июля, 2016
  3. ^ Будмир, Майлз (6 марта 2014 г.), «Измерение испытательного оборудования», Советы по тестированию и измерениям
  4. ^ Cejer, M.A., Выбор оптимальной единицы измерения источника для вашего приложения для тестирования и измерения (PDF), Tektronix, получено 22 июля, 2016
  5. ^ «Модульный масштабируемый испытательный комплект включает АТЕ источник-измеритель», EE Times, 10 марта 2005 г.

внешняя ссылка