WikiDer > Полусферический анализатор энергии электронов

Hemispherical electron energy analyzer
Полусферический анализатор энергии электронов.

А полусферический анализатор энергии электронов или же полусферический анализатор отклонения это тип электронного энергетического спектрометра, обычно используемый для приложений, где требуется высокое разрешение по энергии - различные разновидности электронная спектроскопия Такие как фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением (ARPES), Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS) и Оже-электронная спектроскопия (AES)[1] или в приложениях для обработки изображений, таких как фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) и низкоэнергетическая электронная микроскопия (ЛИМ).[2]

Функция

Основные части полусферического анализатора энергии электронов.

Идеальный полусферический анализатор состоит из двух концентрических полусферических электродов (внутренняя и внешняя полусферы) с радиусами и поддерживаются при надлежащем напряжении. В такой системе электроны линейно рассеиваются в зависимости от их кинетической энергии вдоль направления, соединяющего входную и выходную щели, в то время как электроны с той же энергией фокусируются первого порядка.[3]

Когда два напряжения, и , приложены к внутреннему и внешнему полушариям соответственно, электрический потенциал в области между двумя электродами следует из Уравнение лапласа:

Электрическое поле, направленное радиально от центра полушарий наружу, имеет знакомое планетарное движение. форма

Напряжения устанавливаются таким образом, чтобы электроны с кинетической энергией равный так называемому передавать энергию следовать по круговой траектории радиуса . В центростремительная сила вдоль пути наложено электрическое поле . Имея это в виду,

,

Разница потенциалов между двумя полушариями должна быть

.

Один детектор в радиусе на другой стороне полушарий будут регистрировать только электроны одной кинетической энергии. Однако обнаружение можно распараллелить из-за почти линейной зависимости конечных радиусов от кинетической энергии. В прошлом несколько дискретных детекторов электронов (канетроны) использовались, но сейчас микроканальные пластины с фосфоресцентные экраны и обнаружение камеры преобладают.

Расчетные траектории для трех различных кинетических энергий и четырех начальных положений внутри щели. Ширина щели отображается непосредственно в каналы обнаружения энергии, что ухудшает разрешение.
Расчетные траектории для пяти различных кинетических энергий и пяти начальных углов. Начальный угловой разброс, зависящий от выбранной щели и ширины апертуры, ухудшает энергетическое разрешение.

В общем, эти траектории описываются в полярных координатах для самолета большой круг для электронов, падающих под углом относительно нормали ко входу, а для начальных радиусов для учета конечной апертуры и ширины щели (обычно от 0,1 до 5 мм):[4]

куда .

Как можно увидеть на изображениях рассчитанных траекторий электронов, конечная ширина щели отображается непосредственно в каналы регистрации энергии (таким образом путая реальный разброс по энергии с шириной луча). Угловой разброс, одновременно ухудшающий энергетическое разрешение, показывает некоторую фокусировку, поскольку равные отрицательные и положительные отклонения отображаются в одном и том же конечном месте.

Расстояние от центральной траектории на выходе полусферического анализатора энергии электронов в зависимости от кинетической энергии электрона, начального положения внутри щели 1 мм и угла, под которым он входит в радиальное поле после прохождения через щель. Дисперсия почти линейна по энергии, линейна в исходном положении и квадратична по углу. Последние два переходят в энергетические каналы детектора, портя разрешение. Данные рассчитаны для Rп= 100 мм. Обратите внимание на порядки величин различных масштабов на вертикальных осях.

Когда эти отклонения от центральной траектории выражаются через малые параметры определяется как , , и имея в виду, что сам по себе мал (порядка 1 °), конечный радиус траектории электрона, , дан кем-то

.

Это означает, что к энергетической дисперсии размазывание добавляется в каждой точке детектора. Это размытие путают с истинной дисперсией энергии. . Отсюда следует, что приборное энергетическое разрешение, заданное как функция средней ширины двух щелей и максимальный угол падения поступающих фотоэлектронов, который сам зависит от , является

.

Разрешение улучшается с увеличением . Однако технические проблемы, связанные с размером анализатора, ограничивают его фактическое значение, и большинство анализаторов имеют его в диапазоне 100–200 мм. Энергии нижнего прохода также улучшают разрешение, но тогда вероятность прохождения электронов снижается, и соответственно ухудшается отношение сигнал / шум. Электростатические линзы перед анализатором имеют две основные цели: они собирают и фокусируют поступающие фотоэлектроны во входную щель анализатора, и они замедляют электроны до диапазона кинетических энергий около , чтобы увеличить разрешение.

При съемке спектров в прокатился (или же сканирование), напряжения двух полушарий - и, следовательно, проходящая энергия - остаются фиксированными; в то же время напряжения, прикладываемые к электростатическим линзам, регулируются таким образом, что каждый канал считает электроны с выбранной кинетической энергией в течение выбранного периода времени. Чтобы сократить время захвата на спектр, так называемый снимок (или же фиксированный) можно использовать. В этом режиме используется соотношение между кинетической энергией фотоэлектрона и его положением внутри детектора. Если диапазон энергий детектора достаточно широк, и если сигнал фотоэмиссии, собранный со всех каналов, достаточно силен, спектр фотоэмиссии может быть получен за один снимок изображения детектора.

Смотрите также

Рекомендации

  1. ^ Рой, Д .; Тремблей, Д. (1990). «Конструирование электронных спектрометров». Отчеты о достижениях физики. 53 (12): 1621–1674. Bibcode:1990RPPh ... 53.1621R. Дои:10.1088/0034-4885/53/12/003. ISSN 0034-4885.
  2. ^ Туше, христианин; Чен, Ин-Цзюнь; Шнайдер, Клаус М .; Киршнер, Юрген (2019-11-01). «Свойства изображения полусферических электростатических анализаторов энергии для импульсной микроскопии высокого разрешения». Ультрамикроскопия. 206: 112815. Дои:10.1016 / j.ultramic.2019.112815. ISSN 0304-3991. PMID 31325896.
  3. ^ Хаджараб, Ф .; Дж. Л. Эрскин (1985). «Свойства изображения полусферического анализатора применительно к многоканальному обнаружению энергии». Журнал электронной спектроскопии и родственных явлений. 36 (3): 227. Дои:10.1016/0368-2048(85)80021-9.
  4. ^ Практический анализ поверхности: методами шнековой и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.. Бриггс, Д. (Дэвид), 1948-, Сеа, М. П. Чичестер: Wiley. 1983 г. ISBN 0-471-26279-X. OCLC 9556397.CS1 maint: другие (связь)