WikiDer > Нейтронная рефлектометрия
| Наука с нейтроны |
|---|
 |
| Фонды |
| Рассеяние нейтронов |
| Другие приложения |
| Инфраструктура |
| Нейтронные объекты |
Нейтронная рефлектометрия это нейтронография методика измерения структуры тонкие пленки, аналогично часто дополняющим техникам Рентгеновская отражательная способность и эллипсометрия. Этот метод предоставляет ценную информацию по широкому кругу научных и технологических приложений, включая химическое агрегирование, полимер и поверхностно-активное вещество адсорбция, структура тонкопленочных магнитных систем, биологических мембран и др.
Технические детали
Техника предполагает освещение высоко коллимированный луч нейтроны на чрезвычайно плоскую поверхность и измерить интенсивность отраженного излучения в зависимости от угла или длины волны нейтронов. Точная форма профиля отражательной способности предоставляет подробную информацию о структуре поверхности, включая толщину, плотность и шероховатость любых тонких пленок, нанесенных на подложку.
Нейтронная рефлектометрия чаще всего выполняется в зеркальное отражение режим, в котором угол падающего луча равен углу отраженного луча. Отражение обычно описывается в терминах импульс передача вектор, обозначенный , который описывает изменение импульса нейтрона после отражения от материала. Обычно Направление определяется как направление, нормальное к поверхности, а для зеркального отражения вектор рассеяния имеет только -компонент. Типичный график нейтронной рефлектометрии отображает отраженную интенсивность (относительно падающего луча) как функцию вектора рассеяния:
куда это нейтрон длина волны, и - угол падения. В Матричный формализм Абелеса или рекурсия Парратта может использоваться для вычисления зеркального сигнала, возникающего из интерфейса.
Рефлектометрия вне зеркала приводит к диффузному рассеянию и включает передачу импульса внутри слоя и используется для определения латеральных корреляций внутри слоев, например, возникающих из магнитных доменов или коррелированной шероховатости в плоскости.
Длина волны нейтронов, используемых для отражательной способности, обычно составляет от 0,2 до 1. нм (От 2 до 10 Å). Этот метод требует источник нейтронов, который может быть исследовательский реактор или раскол источник (на основе ускоритель частиц). Как все рассеяние нейтронов нейтронная рефлектометрия чувствительна к контрасту, исходящему от различных ядер (по сравнению с электронной плотностью, которая измеряется при рассеянии рентгеновских лучей). Это позволяет методике различать различные изотопы из элементы. Нейтронная рефлектометрия измеряет длина рассеяния нейтронов плотность (SLD) и может использоваться для точного расчета материала плотность если известен атомный состав.
Сравнение с другими методами рефлектометрии
Хотя другие методы отражательной способности (в частности, оптическая отражательная способность, рентгеновская рефлектометрия) работают с использованием тех же общих принципов, нейтронные измерения имеют несколько важных преимуществ. В частности, поскольку метод исследует ядерный контраст, а не плотность электронов, он более чувствителен для измерения некоторых элементов, особенно более легких элементов (водород, углерод, азот, кислород, так далее.). Чувствительность к изотопам также позволяет значительно (и избирательно) повысить контраст для некоторых представляющих интерес систем с использованием изотопного замещения, а для разрешения проблемы можно использовать несколько экспериментов, которые отличаются только изотопным замещением. фазовая проблема это общее для методов рассеяния. Наконец, нейтроны обладают высокой проникающей способностью и, как правило, не вызывают возмущений: что обеспечивает большую гибкость в средах образцов и использование хрупких материалов образцов (например, биологических образцов). Напротив, рентгеновское облучение может повредить некоторые материалы и лазер свет может изменять некоторые материалы (например, фоторезисты). Кроме того, оптические методы могут включать неоднозначность из-за оптических анизотропия (двулучепреломление), которую могут разрешить дополнительные нейтронные измерения. Двойная поляризационная интерферометрия - это один из оптических методов, который обеспечивает результаты, аналогичные нейтронной рефлектометрии при сопоставимом разрешении, хотя лежащая в основе математическая модель несколько проще, то есть позволяет получить только толщину (или двулучепреломление) для однородной плотности слоя.
К недостаткам нейтронной рефлектометрии можно отнести более высокую стоимость необходимой инфраструктуры, а также то, что некоторые материалы могут стать радиоактивный при воздействии луча и нечувствительности к химическому состоянию составляющих атомов. Более того, относительно более низкий поток и более высокий фон метода (по сравнению с отражательной способностью рентгеновских лучей) ограничивают максимальное значение что можно зондировать (и, следовательно, разрешение измерения).